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表面分析SIMS |本 | 通販 | Amazon。二次イオン質量分析(SIMS) | 表面分析 | 分析機能と原理 | 技術情報。TOF-SIMSを用いた半導体及び各種材料の深さ方向分析。二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析:SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。。飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS) | 表面分析 | 分析機能と。。資格の大原 公務員試験セット2024年度受験用。量子情報への表現論的アプローチ。栄光ゼミ 新演習 5年 51冊セット。栄養士 教科書
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